探针卡探测卡是
探针台测试设计的probe card.
参数探测卡Parametric Probe card
可在低温/高温（-55℃～200℃）下测量
可测量低电流（<10fA）
对应匹配安捷伦4060,4070,4080
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(参数探测卡Parametric Probe card实物图）
高功率测量探针卡
Probe Card for High Power Measurement
支持10KV的高电压测试
支持200A及其以上的大电流测量
阻止高压放电的结构
使用铱探针支持高电流测试
与每个测量仪器匹配连接
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(高功率测量探针卡实物图）
直流多触点探针
DC multi-contact probe
可以安装在
探针台定位器中
形状如同高频探针
LCR芯片部件可以安装在在装置附近进行对抗防振支架
***多可能有20个引脚
可以用钨制成,适合红外线探针应用
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(直流多触点探针实物图）
高频测量探头卡
Probe card for high frequency measurement
使用同轴探针，以实现卓越的性能和高频特性
卓越的高频特性
降低测试成本
<用法示例>
锯滤器・射频开关・LNA,蓝牙，无线局域网的集成电路
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(高频测量探头卡实物图）
测量小电流的探针卡
Probe card for measuring small current
可以在高温下测量，
高灵敏度支持小电流测量
适合温度低温-60°C至350°C
fA级的***小电流测量
适合4.5英寸矩形基板
支持4070/4080测试仪
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(测量小电流的探针卡实物图）
用于批量生产的悬臂探针卡
Cantilever probe card for mass production
悬臂式，性价比极高
它相当于大约300针
多通道通信
低成本和低测试成本
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(悬臂探针卡实物图）
