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  • 热激光激发显微镜采用Thermal Laser Stimulation-TLS技术-孚光精仪

    热激光激发显微镜 FPALP-TLS

    品牌: 价格:0.00
    热激光激发显微镜采用Thermal Laser Stimulation - TLS技术,配备高清光学显微镜和高功率激光器,高精度聚焦定位集成电路板元器件进行失效分析。热激光激发显微镜TLS的激光束可局部加热元器件,读取晶体管电流消耗数据，评估电子元器件失效与否。
  • 光子辐射显微镜_Photoemission光子辐射定位系统获取集成电路发射红外光子-孚光精仪

    光子辐射显微镜 FPALP-Photoemission

    品牌: 价格:0.00
    光子辐射显微镜是为集成电路失效分析设计的Photoemission光子辐射定位系统,,可采集集成电路背部发射的红外光子,观察分析半导体的光子辐射,进而对半导体集成电路失效分析测试。
  • 激光故障注入系统_laser fault injection系统适合激光故障注入测试分析-孚光精仪

    激光故障注入系统 FPALP-S-LMS

    品牌: 价格:0.00
    激光故障注入系统是为集成电路安全性评估设计的高精度laser fault injection系统和激光故障注入显微镜,方便对集成电路进行激光故障注入测试分析。
  • 激光单粒子效应实验系统_单粒子效应试验系统SEE用于单粒子翻转-孚光精仪

    激光单粒子效应实验系统 FPAST-SEE

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    激光单粒子效应实验系统是采用超短脉冲激光模拟单粒子效应SEE的单粒子效应试验系统,它还可以研究单粒子效应的半导体器件辐射硬化和集成电路单粒子效应辐射硬化,广泛用于激光单粒子翻转测试实验SEU,激光单粒子瞬时效应测试SET,单粒子闩锁性能测试实验SEL,单粒子栅击穿实验测试SEGR,单粒子烧毁试验测试SEB。
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