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  • 磁场低温探针台采用MicroXact低温磁探针台技术,满足电磁铁、超导磁体或电磁铁和超导磁体的组合测试应用。这种磁场低温探针台可用于低温自旋电子学测试、自旋转矩振荡器测试、霍尔效应测试、量子霍尔效应测试等。
  • 无氦低温探针台CPS-CF是为极低温探针测试设计的闭循环低温探针台系统,适合低温下对器件和电路进行探针测试。
  • 这款半自动真空探针台SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探针系统,设计用于支持在真空或受控气体环境中对多达100mm或200mm的晶片进行电动或半自动探测。
  • 磁探针台 FPMIC-MPS-350

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    这款磁探针台可提供三维磁场控制,满足磁性控制RF探针测试应用.作为磁场探针台实现了平面磁场的任意操控,方便自旋电子器件探针测试.
  • 高温探针台 FPMIC-CPS-HT

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    这款高温探针台是为高温环境器件测试或真空环境或气体环境器件探针台分析测试而设计。手动高温探针台可测试50mm x 50mm的晶圆样品,电控或半自动高温探针台可测试100mm或更大尺寸晶圆样品。高温探针台在真空环境下可测量温度环境高达700摄氏度,在非真空环境下可测650摄氏度。
  • 这款闭循环低温真空探针台是半自动低温真空探针台,可在低温单CCR系统9K,双CCR系统4.5K和三CCR系统低于4K温度下测试经验和器件。闭循环低温真空探针台非常适合量子计算,超导电子等高科技应用。
  • 激光切割分析探针台集成分析探针台和半导体激光修调trimming系统,适合半导体分析切割,失效分析,半导体修调trimming,结构层移除,标记等诸多应用。
  • 这款半自动探针台广泛用作电动分析探针台和半自动晶圆探针台,可测试200mm晶圆,采用重型多功能探针台平台制造,配置灵活多样,具有加热制冷晶圆夹盘chuck,体式显微镜,RF屏蔽箱等诸多配件可选择,适合半导体器件探针台测试和晶圆探针台测试等多种应用。
  • 这款半自动晶圆探针台广泛用作分析探针台和RF探针台,可测试100mm晶圆,性价比高,配置灵活多样,具有加热型晶圆夹盘chuck,体式显微镜,RF屏蔽箱等诸多配件可选择,适合实验室半导体器件探针台测试和晶圆探针台测试应用。
  • 这款手动型晶圆探针台广泛用作分析探针台和RF探针台,可测试200mm晶圆,性价比高,配置灵活多样,具有加热型晶圆夹盘chuck,体式显微镜,RF屏蔽箱等诸多配件可选择,适合实验室半导体器件测试和晶圆探针台测试应用。
  • 这款手动型分析探针台广泛用作晶圆探针台和RF探针台,性价比高,配置灵活多样,具有加热型晶圆夹盘chuck,体式显微镜,RF屏蔽箱等诸多配件可选择,适合实验室半导体器件测试和晶圆探针台测试应用。
  • 这款手动探针台适合150mm尺寸晶圆测试,是经济型探针台但是具有昂贵探针台的良好参数性能,结构紧凑而方便使用,非常适合实验室半导体器件测试和电路测试应用。
  • 微探针台系统micro probe system可植入显微镜中,把显微镜改造成探针台系统,实现微操作和微测量功能。微探针台系统能够把现有光学显微镜升级成高精度和高稳定性的压电微操纵仪器,非常适合紧凑空间和较短工作距离的显微镜使用。
  • 纳米操纵系统采用纳米探针模块nanoprober为显微镜或电镜下微纳操作提供纳米级微操纵方案,非常适合SEM和各种电镜样品微操作使用。
  • 微探针系统 FPNEX-MICRO

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    这款微探针系统micro probe是为材料光学特性和电特性测试设计的纳米级微纳探针仪器,可以结合显微镜,光谱仪等仪器在各种环境条件下现场测试材料电学和光学特性,满足真空,高温,气流,湿度,光照等各种特殊环境应用,内体积仅为100cc.
  • 大型晶圆探针台600LS是专业为300mm晶圆测试设计的大尺寸晶圆测试探针台系统,广泛用于6''晶圆,8''晶圆和12''晶圆探针测试应用。
  • 这款低温探针台系统提供近液氮温度77K情况下电子安静的高灵敏度电容和电流测量功能,它采用电子防护罩确保电子安静且控制环境操作。
  • 手动探针台 FPCRE-BU

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    这款手动探针台BU-4提供4''样品真空卡盘和4'' x 4''滚珠轴承螺杆位移台,带有精确theta角控制,磁性不锈钢顶部压板平台带有升降功能。配备三丰长距离物镜后非常适合FA整修和探针应用,可配备多种相机。
  • 范德瓦尔斯转移台VAN DER WAALS是为半导体芯片不同材料在精确位置的堆积过程研究设计的范德瓦尔斯位移台。
  • 激光微调系统是专业为半导体器件修整设计的激光修整系统.这款激光微调系统可以采用NEWWAVE公司的激光微调主机和266nm,355nm,532nm和1064nm激光器,广泛用于失效分析,电阻微调修整,修理MEMS器件,修理清除平板阵列污染物。
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