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品牌:
  • 高分辨率扫描电子显微镜SEM-200具有3nm分辨率能力和竞争力的扫描电镜价格,广泛用于科研单位使用。放大倍率15X~300.000X ,有效放大100,000X ,分辨率3nm (30KV SE图像)
  • EDS扫描电镜 FPMRC-SEM-30AX

    品牌:孚光精仪 价格:186000.00
    这款EDS扫描电镜SEM-30AX是安装有Thermal公司紧凑型EDS探测器的高性价比扫描电镜,集成了扫描电镜和能量色散光谱仪功能,具有较低的扫描电镜价格,非常适合纳米科学,材料科学研究。放大倍率20X~100.000X,有效放大50000X,分辨率7nm (20KV SE图像),EDS功能C(6)至U(92)元素,133eV分辨率@5.89 kev Mn,80eV.
  • 台式扫描电镜 FPMRC-SEM-30

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款台式扫描电镜SEM-30是世界级纳米扫描电镜,具有较低的扫描电镜价格,非常适合纳米科学,材料科学研究。台式扫描电镜SEM-30领航纳米世界,帮助用户在纳米微观世界研究中保持领先优势,为高校和科研单位提供了这款精确而快速的高分辨率台式扫描电镜。放大倍率20X~100.000X,有效放大50000X,分辨率5nm (30KV SE图像).
  • 纳米扫描电镜 FPMRC-SEM-20

    品牌:孚光精仪 价格:84500.00
    这款纳米扫描电镜SEM-20是世界级台式扫描电镜,具有较低的扫描电镜价格,非常适合纳米科学,材料科学纳米尺纳米扫描电镜SEM-20领航纳米世界,帮助用户在纳米微观世界研究中保持领先优势,为高校和科研单位提供了这款精确而快速的高分辨率台式扫描电镜。放大倍率20X~80000X,有效放大40000X,分辨率7nm (20KV SE图像)
  • 探针台定位器 FPMRC-EB-700

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款探针台定位器专业为探针台定位应用而设计的高精度探针定位器或探针台微操作器,也可用于其它精密光电仪器高精度定位。
  • 微型探针台 FPMRC-PE-4

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款微型探针台PE-4是高性价比小型探针台,具有较低的探针台价格,广泛用于科研实验室和企业研发部门。
  • 这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器,它采用微处理器电路直接计算出V/I数值,表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。
  • 这款玻璃翘曲度测量仪是大尺寸玻璃弯曲度测量仪和玻璃弯曲度测试仪,广泛用于翘曲度测量,弯曲度测量,表面形貌测量和镀膜测量等。玻璃翘曲度测量仪,玻璃弯曲度测量仪,玻璃弯曲度测试仪由孚光精仪公司进口,专业为太阳能玻璃翘曲度测量或光伏玻璃翘曲度测量而设计。
  • 硅片厚度测量仪 硅片TTV厚度测试仪

    品牌:进口/美国 价格:0.00
    该硅片TTV厚度测试仪是采用红外干涉技术的硅片厚度测量仪,能够精确测量硅片厚度和测量TTV总厚度变化,也能实时测量超薄晶圆厚度(掩膜过程中的晶圆),硅片厚度测试仪非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等厚度测量应用。
  • 多功能量子效率测量系统 PM-QE

    品牌:进口/欧洲 价格:0.00
    这套多功能太阳能电池量子效率测量系统是多用途量子效率测试系统,一套量子效率测试系统可以测量:薄膜厚度, 折射率,透过率,光学常数, 光谱响应(Spectral Response, SR, A/W), 外量子效率(External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和 内量子效率(Internal Quantum Efficiency, IQE,%).
  • 多功能翘曲度测量仪 翘曲度测量仪

    品牌:进口/美国 价格:0.00
    翘曲度测量仪是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。适合光伏电池翘曲度测量,太阳能电池翘曲度测量,晶圆翘曲度测量,硅片翘曲度测量,晶片翘曲度测量。
  • 显微薄膜测量仪 FR-uProbe

    品牌:进口/欧洲 价格:0.00
    这款显微薄膜测量仪是一款多功能薄膜测厚仪和显微分光光度计,可以结合显微镜测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率以及测量薄膜荧光。这款显微薄膜测试仪通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
  • 宽带光学薄膜测厚仪 FRANG-SR500

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款宽带光学薄膜测厚仪是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光等,这款宽带光学薄膜厚度测量仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k)。
  • 薄膜厚度均匀性测量仪 FPANG-SRM100

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
  • 薄膜厚度绘图仪 FPANG-SRM300

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
  • 这款光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数,非常适合日常已知膜系膜堆测量。
  • 镜片透光率测试仪 FPASP-TSM-01

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    镜片透光率测试仪是一款眼镜镜片透光率测量仪器,广泛用于薄膜透光率测试,比如LED扩散板透光率测试,镜头透光率测试,玻璃透过率测试,隔热纸材料透过率测试。
  • 自动光谱椭偏仪M300 FPANG-SE200BA-M300

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款自动光谱椭偏仪M300是一种自动变角光谱椭偏仪和深紫外光谱椭偏仪,具有250-1100nm的波长范围,并具有自动改变入射角的功能。自动spectroscopic ellipsometer从深紫外到可见光再到近红外.深紫外波长椭偏仪非常适合测量超薄薄膜厚度,比如纳米薄膜厚度,比如硅晶圆的薄膜厚度,典型值在2nm左右。对于测量许多材料的带隙,深紫外光谱椭偏仪也非常重要。
  • 这款反射式光谱椭偏仪MSP具有250-1000nm的波长范围,可与显微分光光度计联合使用,测量极小斑点的薄膜厚度和折射率,可广泛用于MEMS,半导体晶圆等领域,是反射光谱椭偏仪品牌中光谱椭偏仪价格较低的椭偏仪。
  • 这款手动光谱椭偏仪是一种手动变角光谱椭偏仪和深紫外光谱椭偏仪,具有250-1100nm的波长范围,手动改变入射角。手动spectroscopic ellipsometer光谱范围覆盖从深紫外到可见光再到近红外.深紫外波长非常适合测量超薄薄膜,比如纳米厚度薄膜测量,硅晶圆薄膜厚度测量,典型值在2nm左右。对于测量许多材料的带隙,深紫外光谱椭偏仪也非常重要。
  • 这款大型光谱椭偏仪SE200BM-M450具有450mm直径样品台,提供更为安全的样品操作和定位,具有250-850nm的波长范围,是美国Angstrom公司为大尺寸样品薄膜厚度测量而设计的美国进口光谱椭偏仪,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性价比椭偏仪价格和椭偏仪品牌。
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