当前位置: 首页  >> 产品展示  >> 光学测量系列
品牌:
价格:
  • 镜片透光率测试仪 FPASP-TSM-01

    品牌:孚光精仪 价格:0
    镜片透光率测试仪是一款眼镜镜片透光率测量仪器,广泛用于薄膜透光率测试,比如LED扩散板透光率测试,镜头透光率测试,玻璃透过率测试,隔热纸材料透过率测试。
  • LED光电测量系统 OLED测试系统

    品牌:进口/欧洲 价格:0
    这款LED光电测量系统是一款进口的满足LED电光参数测量和性能测量的LED光谱分析系统,用于LED发光测量和OLED发光测量,可以测量LED, OLED激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射,光度学,色度以及效率参数。
  • 翘曲度测量仪是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。适合光伏电池翘曲度测量,太阳能电池翘曲度测量,晶圆翘曲度测量,硅片翘曲度测量,晶片翘曲度测量。
  • 多功能量子效率测量系统 PM-QE

    品牌:进口/欧洲 价格:0
    这套多功能太阳能电池量子效率测量系统是多用途量子效率测试系统,一套量子效率测试系统可以测量:薄膜厚度, 折射率,透过率,光学常数, 光谱响应(Spectral Response, SR, A/W), 外量子效率(External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和 内量子效率(Internal Quantum Efficiency, IQE,%).
  • 该硅片TTV厚度测试仪是采用红外干涉技术的硅片厚度测量仪,能够精确测量硅片厚度和测量TTV总厚度变化,也能实时测量超薄晶圆厚度(掩膜过程中的晶圆),硅片厚度测试仪非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等厚度测量应用。
  • LCD驱动芯片检测系统 LCD-AVI

    品牌:进口/美国 价格:0
    这套LCD驱动芯片检测系统是一套LDI(LCD Driver IC)自动视觉检测系统。这套LCD驱动芯片检测系统采用超快实时自动聚焦技术(Real-time Auto Foucs),实时聚焦LCD驱动芯片的表面,快速发现LCD Driver IC缺陷。
  • 这款玻璃翘曲度测量仪是大尺寸玻璃弯曲度测量仪和玻璃弯曲度测试仪,广泛用于翘曲度测量,弯曲度测量,表面形貌测量和镀膜测量等。玻璃翘曲度测量仪,玻璃弯曲度测量仪,玻璃弯曲度测试仪由孚光精仪公司进口,专业为太阳能玻璃翘曲度测量或光伏玻璃翘曲度测量而设计。
  • 这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器,它采用微处理器电路直接计算出V/I数值,表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。
  • 这款光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数,非常适合日常已知膜系膜堆测量。
  • 薄膜厚度绘图仪 FPANG-SRM300

    品牌:孚光精仪 价格:0
    这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
  • 这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
  • 聚合物薄膜测厚仪 FR-Therm

    品牌:进口/欧洲 价格:0
    这款聚合物薄膜测厚仪用于测量polymer films(聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜)和 photoresist films (光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜)在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,我们特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg), ,热分解温度thermal degradation temperature (Td) ,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。
  • 薄膜溶解测量仪 fr-liquid

    品牌:进口/欧洲 价格:0
    这款薄膜溶解测厚仪用于实时监测薄膜在液体中薄膜厚度变化和光学常量(n, k)变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,我们特意为薄膜溶解测厚仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。
  • 手持式薄膜测厚仪 FP-FR-pOrtable

    品牌:进口/欧洲 价格:0
    这款手持式薄膜测厚仪是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等,这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k,薄膜厚度测量范围为350-1000nm.
  • 雾度测量仪 FP-PM-Haze

    品牌:进口/欧洲 价格:0
    这款薄膜雾度测量仪适合玻璃或硅晶圆衬底上薄膜总透过率测量和薄膜漫透过率测量,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而测量雾度值,测量光谱范围为400-900nm.
  • 宽带光学薄膜测厚仪 FRANG-SR500

    品牌:孚光精仪 价格:0
    这款宽带光学薄膜测厚仪是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光等,这款宽带光学薄膜厚度测量仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k)。
  • 显微薄膜测量仪 FR-uProbe

    品牌:进口/欧洲 价格:0
    这款显微薄膜测量仪是一款多功能薄膜测厚仪和显微分光光度计,可以结合显微镜测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率以及测量薄膜荧光。这款显微薄膜测试仪通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
  • 这款高级自动光谱椭偏仪是自动变角椭偏仪,能够自动改变测角计入射角的spectroscopic ellipsometer,角度改变步进高达0.01度,光谱范围覆盖250-1700nm, 是宽波段高精度自动椭偏仪。
  • 这款手动低价光谱椭偏仪是高性价比手动椭偏仪,它采用手动改变测角计入射角技术,相比于自动改变入射角的自动光谱椭偏仪价格更低。
  • 这款光伏太阳能光谱椭偏仪是全球首款专业为光伏太阳能领域的薄膜测量而开的手动光伏椭偏仪,这款光伏太阳能光谱椭偏仪为光伏薄膜测量研究提供便利,具有实时测量薄膜厚度和薄膜厚度绘图的独特功能。它采用手动改变测角计的入射角,数秒中给出结果。
  • 这款大型光谱椭偏仪SE200BM-M450具有450mm直径样品台,提供更为安全的样品操作和定位,具有250-850nm的波长范围,是美国Angstrom公司为大尺寸样品薄膜厚度测量而设计的美国进口光谱椭偏仪,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性价比椭偏仪价格和椭偏仪品牌。
条 1/3 页 首页 上一页 1  2   3  下一页 尾页
多 快 好 省
新手上路
顾客必读会员等级折扣商品退货保障
购物指南
购物流程会员介绍常见问题联系客服
配送方式
上门自提211限时达配送服务查询配送费收取标准海外配送
支付方式
货到付款在线支付邮局汇款公司转账
售后服务
售后政策价格保障退款说明返修/退换货
孚光网
孚光网
在线客服系统