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  • 这款主动磁场屏蔽消磁系统是专业为电镜等电子束仪器屏蔽磁场干扰而设计的主动磁场屏蔽和主动消磁装置系统.用于为科学仪器装置免受磁场干扰影响的环境.主动磁场屏蔽消磁系统在原有的磁场屏蔽室内增设主动磁场消磁仪器,为精密科学仪器提供磁场屏蔽环境。
  • 手动探针台 FPCRE-BU

    品牌: 价格:0.00
    这款手动探针台BU-4提供4''样品真空卡盘和4'' x 4''滚珠轴承螺杆位移台,带有精确theta角控制,磁性不锈钢顶部压板平台带有升降功能。配备三丰长距离物镜后非常适合FA整修和探针应用,可配备多种相机。
  • 范德瓦尔斯转移台VAN DER WAALS是为半导体芯片不同材料在精确位置的堆积过程研究设计的范德瓦尔斯位移台。
  • 激光微调系统是专业为半导体器件修整设计的激光修整系统.这款激光微调系统可以采用NEWWAVE公司的激光微调主机和266nm,355nm,532nm和1064nm激光器,广泛用于失效分析,电阻微调修整,修理MEMS器件,修理清除平板阵列污染物。
  • 近场扫描光学显微镜NSOM采用SNOM技术帮助用户获得最大的光学空间分辨率,具有原子力显微镜模式和光子计数模式的荧光和光学图像。
  • 纳米干涉形貌仪nanoprofilometer是采用微纳干涉显微镜部分相干光的干涉技术制造的纳米轮廓仪和纳米形貌仪,可定量测量微米尺度和纳米尺度表面形貌轮廓,并且几秒钟能够采集2百万数据点。
  • 这款三维台阶仪是德国进口的高精度光学台阶仪器,也是一款光学表面台阶仪适合台阶高度测量,具有较低的进口台阶仪品牌台阶仪价格,适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量。
  • 这款磁场屏蔽消磁仪MK-1用于MRI核磁共振和生物磁应用的单轴磁场消除和电磁噪音屏蔽消除,非常适合当磁场传感器不能放置在屏蔽空间内的应用。 例如在MRI应用中,由于MRI核磁共振扫描系统的高边缘场,传感器通常安装在屏蔽室之外。
  • 这款磁场消除系统专业为扫描电镜,聚焦离子束FIB消磁或电磁屏蔽设计的消磁仪器和磁场补偿系统,有效屏蔽消除磁场噪声问题,为电子显微镜,电子和离子束实验,磁共振成像MRI,生物磁研究提供了无磁噪音环境。这款磁场消除系统采用磁场反馈补偿系统,通过建立相反方向的补偿磁场达到降低磁场噪声的目的。这款磁场消除系统在从DC到〜1 kHz的频率范围内可连续补偿磁场的干扰。
  • 法拉第屏蔽箱 FPSTA-1FC-075

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    法拉第屏蔽箱采用法拉第笼,Faraday Cage原理,是降低电磁干扰的有效法拉第箱和电磁屏蔽箱,非常适合电磁敏感或电磁干扰严重的仪器实验屏蔽电磁干扰使用,比如共聚焦显微镜,电生理学实验,传感器校准定标等。
  • 法拉第罩壳 FPSTA-1FC

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    法拉第罩壳采用法拉第笼,Faraday Cage原理,是降低电磁干扰的有效法拉第罩和法拉第壳,非常适合电磁敏感或电磁干扰严重的仪器实验屏蔽电磁干扰使用,比如共聚焦显微镜,电生理学实验,传感器校准定标等。
  • 硅片厚度测量仪 FPZEB-P-1D

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    该硅片TTV厚度测试仪是采用红外干涉技术的硅片厚度测量仪,能够精确测量硅片厚度和测量TTV总厚度变化,也能实时测量超薄晶圆厚度(掩膜过程中的晶圆),硅片厚度测试仪非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等厚度测量应用。
  • 玻璃翘曲度测量仪 FPZEB-P-1E

    品牌:进口/美国 价格:0.00
    这款玻璃翘曲度测量仪是大尺寸玻璃弯曲度测量仪和玻璃弯曲度测试仪,广泛用于翘曲度测量,弯曲度测量,表面形貌测量和镀膜测量等。玻璃翘曲度测量仪,玻璃弯曲度测量仪,玻璃弯曲度测试仪由孚光精仪公司进口,专业为太阳能玻璃翘曲度测量或光伏玻璃翘曲度测量而设计。
  • 全自动四探针电阻率计 FPMIL-FPP-5000

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器,它采用微处理器电路直接计算出V/I数值,表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。
  • 聚合物薄膜测厚仪 FPTHE-FR-Thermal

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款聚合物薄膜测厚仪用于测量polymer films(聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜)和 photoresist films (光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜)在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,我们特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg), ,热分解温度thermal degradation temperature (Td) ,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。
  • 便携式薄膜测厚仪 FPTHE-FR-pOrtable

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款便携式薄膜测厚仪是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等,这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k,薄膜厚度测量范围为350-1000nm.
  • 薄膜溶解测厚仪 FPTHE-FR-liquid

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款薄膜溶解测厚仪用于实时监测薄膜在液体中薄膜厚度变化和光学常量(n, k)变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,我们特意为薄膜溶解测厚仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。
  • 镜片透光率测试仪 FPASP-TSM-01

    品牌:孚光精仪 价格:96650.00
    镜片透光率测试仪是一款眼镜镜片透光率测量仪器,广泛用于薄膜透光率测试,比如LED扩散板透光率测试,镜头透光率测试,玻璃透过率测试,隔热纸材料透过率测试。
  • 光学薄膜测厚仪 FRANG-SR100

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数,非常适合日常已知膜系膜堆测量。
  • 薄膜厚度绘图仪 FPANG-SRM300

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
  • 薄膜厚度均匀性测量仪 FPANG-SRM100

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
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