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双折射偏振态测试仪
这款双折射偏振态测试仪是多功能光谱偏振态测试仪,Spectroscopic Polarimeter,可测量400nm~800nm范围每个波长的偏振态。该双折射偏振态测试还具有斯托克斯偏振态分析、穆勒矩阵测量和映射mapping测量等功能,非常适合液晶显示器、投影仪、偏振光学元件、偏振光学、晶体、生物样品、荧光偏振等偏振态测量分析。
型号:
FPTOK-Poxi
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
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斯托克斯偏振测量仪
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商品详情
这款
双折射偏振态测试仪
是
多功能光谱偏振态测试仪,
Spectroscopic Polarimeter,可
测量
400nm
~
800nm范围
每个波长的偏振态。该
双折射偏振态测试
还具有
斯托克斯偏振态分析
、穆勒矩阵测量和映射mapping测量等功能,非常适合液晶显示器、投影仪、偏振光学元件、偏振光学、
晶体
、生物样品、荧光偏振等偏振态测量分析。
双折射偏振态测试仪
特点
•无需校准,仪器在整个波长范围内进行了校准。
•波长分辨率高达
2nm,
采用分光计代替带通滤波片。
•可测量发散角和散射光,不仅可以测量准直光,还可以测量各种物质发光和反射光。
•用户友*软件,控制软件非常易用,便于用户控制和查找结果,测量结果存储在
csv
文件中。
各种偏振能力测量
•双折射测量:在
0
~
10
万
nm
量级范围内,可同时测量快轴方向和延迟量。
•穆勒矩阵测量:可以进行*高水平的偏振分析。
•Mapping绘图能力:自动
XY
工作台可选配,方便样品偏振特性的分布。
客户订制化系统
我们可以对标准
斯托克斯偏振测量仪 按照客户要求进行定制,比如
紫外
-
近红外(
UV-NIR
)偏振态测量仪、用于测量微弱光的高灵敏度
斯托克斯偏振测量仪
系统、连接到显微镜上的
斯托克斯偏振测量仪
系统等等。
偏振样品的高级分析
利用外加的偏振态发生器(
PSG
)和软件可以测量样品的偏振特性。
斯托克斯偏振测量仪的
PSG
和测量头单元可自由布置。它为需要构建适合多种应用的测量系统的用户提供了方便。从测量的几个
stokes
参数可以计算出如下偏振特性。
线二色性——线偏振光吸收
圆二色性——圆偏振光的吸收
线性双折射——相移(线性
⇔
圆偏振)
旋光——线偏振的旋转
去极化——降低
DOP
的能力
双折射偏振态测试仪
规格
测量参数
斯托克斯参数(
S0
,
S1
,
S2
,
S3
),椭圆度,偏振方向,偏振度(
DOP
,
DOLP
,
DOCP
),偏振消光比
数据绘图
图形(波长
v.s.
参数),图形(数据点
v.s.
参数数量),庞加莱球,
Ellips
视图,警报(低光,饱和时)
特色功能
单次扫描,
连续扫描,确认扫描,自动曝光
斯托克斯偏振计
波长范围
400
~
800nm
波长分辨率
<2nm
波长数
1500
***小测量时间
6
秒
高精度模式测量时间
>20
秒
精度
<2%
重复精度
0.01@3
σ(斯托克斯参数)
方向精度
±
0.2
度(基准面为底面)
测量原理
波片旋转、波片和分析仪旋转
双折射偏振计
原理
双斯托克斯数据分析
波长
与斯托克斯偏振计相同
测量时间
斯托克斯测量值的
2
倍
迟滞范围
0
~λ
/2
纳米,使用拟合方法,***大值为
100000nm
快速轴范围
±
90
度
重复性
1
度(延迟)
穆勒矩阵偏振计可选
原理
四斯托克斯数据分析
波长
与斯托克斯偏振计相同
测量时间
斯托克斯测量值的
4
倍
重复性
±
0.01
(
16
个矩阵元素)
数据分析
线性
二向衰减
,圆形
二向衰减
,
线性双折射,圆双折射,去偏振
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