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太阳能电池I-V测试仪 FPSIN-FCT-450
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太阳能电池I-V测试仪能够高精度高效率地测量太阳能I-V曲线和Suns-Voc数据,可高精度测量传统太阳能电池和背接触太阳能电池。
温度型少子寿命测试仪 FPSIN-WCT-120TS
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0.00
这款温度型少子寿命测试仪是为25℃~200℃范围内晶圆少数载流子复合寿命测量设计的温度决定型少子寿命测定仪器。温度型少子寿命测试仪采用半标准准稳态光电导寿命测量方法QSSPC技术和瞬态光电导衰退技术测量在10ns~10ms范围的少子寿命。
晶圆少子寿命测量仪 FPSIN-WCT-120
品牌:
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0.00
这款晶圆少子寿命测量仪是专业为晶圆少数载流子复合寿命测量设计的少子寿命测试仪器。晶圆少子寿命测量仪采用半标准准稳态光电导寿命测量方法QSSPC技术和瞬态光电导衰退技术测量在10ns~10ms范围的少子寿命。
硅锭寿命测量仪 FPSIN-BCT-400
品牌:
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0.00
硅锭寿命测量仪是精确的非接触式测量本体寿命的仪器,适合任意生长硅锭表面任意曲率半径硅锭测量寿命。也适合单晶硅硅锭和多晶硅硅锭寿命测量。
四点探针系统 FPOSS-FOUR-PROBE
品牌:
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这款四点探针系统用于快速测量材料的片电阻、电阻率和电导率。四点探针系统包括一个四点探针、源测量单元和易于使用的PC软件。
太阳能电池i-v测试系统 FPOSS-I-V
品牌:
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0.00
太阳能电池i-v测试系统是专业为光伏器件特性测量设计的太阳能电池i-v测量系统。太阳能电池i-v测试系统测量太阳能电池的电流-电压曲线,然后自动计算关键器件属性。此外,I-V测量可以随时间周期性地执行,以跟踪这些特性的稳定性。
量子效率测试系统 FPBEN-PVE300
品牌:
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0.00
这款量子效率测试系统是为太阳能光伏量子效率测量设计的内量子效率测试系统和外量子效率测试系统,用于测定太阳能电池光谱响应,EQE(IPCE)和IQE。
入射角修正系统测定仪 FPHYP-IAM
品牌:
价格:
0.00
入射角修正系数测定仪是为光伏器件入射角修正因子测量设计的入射角修正系数测试系统,作为光伏器件的研究级入射角修正器IAM表征系统,系统包括可调和高度准直的宽带“白色”光源、光源激光对准系统、步进电机控制的样品台、高分辨率测量电子设备和配套软件,为用户提供交钥匙功能,到货即可使用。
太阳能电池发光成像检测系统 FPHYP-HELIOS
品牌:
价格:
0.00
太阳能电池发光成像检测系统是为太阳能面板电致发光检测和光致发光检测设计的硅片发光检测成像系统,广泛用于太阳能硅片缺陷检测,可用于在从完全黑暗到完全阳光照射的环境条件下进行EL电致发光成像,还可在阳光直射下获得PL光致发光图像,方便用户在基地或野外进行操作太阳电池硅片缺陷检测。
OLED寿命测试仪 FPOSS-OLED-lifetime
品牌:
价格:
0.00
OLED寿命测试仪提供长期稳定的OLED寿命测量功能,为*化OLED器件稳定性降低OLED衰退提供帮助。OLED寿命测试仪提供8像素和6像素衬底寿命测量能力,适合主流OLED器件寿命测量任务。
C-V/I-V特性测试仪 FPMDC-C-V
品牌:
价格:
0.00
C-V/I-V特性测试仪是为半导体C-V特性分析测试和I-V特性测试分析设计的C-V/I-V测试系统。C-V/I-V特性测试仪具有较高的C-V测试精度,提供流线型C-V曲线和偏置温度压力程序,方便用户使用,点击鼠标就可测量C-V曲线,显示所有C-V曲线绘图和测试结果。密码保护功能允许使用人员预设所有C-V测试结果和压力测试周期。测试结果可保存起来用于后来分析。
量子效率测量系统 FPPVT-IQE-SCAN
品牌:
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量子效率测量系统是为晶体硅太阳能电池IQE内量子效率测量分析设计的内外量子效率测试测量系统,也可以测量EQE外量子效率和光谱反射。
四探针电阻率仪 FPPVT-FPP-SCAN
品牌:
价格:
0.00
这款四探针电阻率仪是采用四点探针测量电阻率技术的四探针电路率测试仪。
全自动四探针电阻率计 FPMIL-FPP-5000
品牌:
孚光精仪
价格:
0.00
这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器,它采用微处理器电路直接计算出V/I数值,表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。
多功能翘曲度测量仪 FPZEP-BOW
品牌:
孚光精仪
价格:
0.00
翘曲度测量仪是孚光精仪公司进口的全球**的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。适合光伏电池翘曲度测量,太阳能电池翘曲度测量,晶圆翘曲度测量,硅片翘曲度测量,晶片翘曲度测量。
多功能量子效率测量系统 PM-QE
品牌:
进口/欧洲
价格:
0.00
这套多功能太阳能电池量子效率测量系统是多用途量子效率测试系统,一套量子效率测试系统可以测量:薄膜厚度, 折射率,透过率,光学常数, 光谱响应(Spectral Response, SR, A/W), 外量子效率(External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和 内量子效率(Internal Quantum Efficiency, IQE,%).
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