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微波探测光致电流瞬态谱仪 FPFRE-MDpicts
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微波探测光致电流瞬态谱仪采用微波技术探测材料的光生电流瞬态光谱值,非常适合温度依赖的少子寿命测量和半导体界面陷阱。
单点少子寿命测量仪 FPFRE-MDPspot
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单点少子寿命测量仪系统是经济型晶圆寿命测量仪器,对不同制备阶段的硅材料电学参数进行表征。单点少子寿命测量仪可测量小于156mm厚度的晶锭,没有自动化配置,手工操作。可增配电阻率测试功能,适合硅,晶圆片和晶锭寿命测量。
单晶多晶硅片寿命测试仪 FPFRE-MDPMap
品牌:
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单晶多晶硅片寿命测试仪是专用为晶圆品质检验,测量少子寿命,测量光电导率和电阻率等研发的晶圆寿命测试仪器
晶圆电阻率测试仪 FPEH-MX60
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晶圆电阻率测试仪采用非接触方式测量晶圆电阻率,测量P/N类型和晶圆厚度,适合硅材料和其它材料的Sheet Resistance测量。
单点硅片测厚仪 FPEH0-MX30
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单点硅片测厚仪是采用单点测厚技术为硅晶圆厚度测量设计的硅晶圆测厚仪器。适合手动测量单点的晶圆厚度。
晶圆翘曲度厚度测试仪 FPEH-MX20
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晶圆翘曲度厚度测试仪是专业为晶圆翘曲度测量和晶圆厚度测量设计的晶圆厚度翘曲度测量仪器,可测量晶圆翘曲度,晶圆Bow/warp,晶圆厚度,晶圆平整度,晶圆几何形状尺寸等物理量。
高分辨率晶圆厚度测试仪 FPEH-MX10
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高分辨率晶圆厚度测试仪能够高精度测量硅晶圆厚度和硅晶圆厚度变化,分辨率高达10nm,可满足不同的晶圆厚度范围。
Suns-Voc后扩散测试仪 FPSIN-Suns-Voc
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Suns-Voc后扩散测试仪是Suns-Voc后扩散过程控制的理想仪器,适合用于浆料烧结*化和过程控制。
太阳能电池I-V测试仪 FPSIN-FCT-450
品牌:
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太阳能电池I-V测试仪能够高精度高效率地测量太阳能I-V曲线和Suns-Voc数据,可高精度测量传统太阳能电池和背接触太阳能电池。
温度型少子寿命测试仪 FPSIN-WCT-120TS
品牌:
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这款温度型少子寿命测试仪是为25℃~200℃范围内晶圆少数载流子复合寿命测量设计的温度决定型少子寿命测定仪器。温度型少子寿命测试仪采用半标准准稳态光电导寿命测量方法QSSPC技术和瞬态光电导衰退技术测量在10ns~10ms范围的少子寿命。
晶圆少子寿命测量仪 FPSIN-WCT-120
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这款晶圆少子寿命测量仪是专业为晶圆少数载流子复合寿命测量设计的少子寿命测试仪器。晶圆少子寿命测量仪采用半标准准稳态光电导寿命测量方法QSSPC技术和瞬态光电导衰退技术测量在10ns~10ms范围的少子寿命。
硅锭寿命测量仪 FPSIN-BCT-400
品牌:
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硅锭寿命测量仪是精确的非接触式测量本体寿命的仪器,适合任意生长硅锭表面任意曲率半径硅锭测量寿命。也适合单晶硅硅锭和多晶硅硅锭寿命测量。
四点探针系统 FPOSS-FOUR-PROBE
品牌:
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这款四点探针系统用于快速测量材料的片电阻、电阻率和电导率。四点探针系统包括一个四点探针、源测量单元和易于使用的PC软件。
太阳能电池i-v测试系统 FPOSS-I-V
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太阳能电池i-v测试系统是专业为光伏器件特性测量设计的太阳能电池i-v测量系统。太阳能电池i-v测试系统测量太阳能电池的电流-电压曲线,然后自动计算关键器件属性。此外,I-V测量可以随时间周期性地执行,以跟踪这些特性的稳定性。
3D激光共聚焦形貌显微镜 FPNAN-NS-3600
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3D激光共聚焦形貌显微镜是一种高速共焦激光扫描显微镜(CLSM),用于精确可靠的三维测量,从一系列光学剖切图像中提供目标物体的三维描述,通过该算法,横截面图像被直接转换为三维轮廓数据。这种独特的原始截面图像,直观地解释,使表面轮廓数据绝对*于其他光学技术。
高速共焦激光扫描显微镜 FPNAN-NS-3500
品牌:
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这款高速共焦激光扫描显微镜(CLSM),用于精确可靠的三维(3D)测量。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现了实时共焦显微图像,广泛用于微纳尺度的台阶高度测量,宽度测量,长度测量等。广泛用于半导体晶片、平板产品、MEMS器件、玻璃基板、材料表面等微观三维结构的测量和检测。
量子效率测试系统 FPBEN-PVE300
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这款量子效率测试系统是为太阳能光伏量子效率测量设计的内量子效率测试系统和外量子效率测试系统,用于测定太阳能电池光谱响应,EQE(IPCE)和IQE。
入射角修正系统测定仪 FPHYP-IAM
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入射角修正系数测定仪是为光伏器件入射角修正因子测量设计的入射角修正系数测试系统,作为光伏器件的研究级入射角修正器IAM表征系统,系统包括可调和高度准直的宽带“白色”光源、光源激光对准系统、步进电机控制的样品台、高分辨率测量电子设备和配套软件,为用户提供交钥匙功能,到货即可使用。
太阳能电池发光成像检测系统 FPHYP-HELIOS
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太阳能电池发光成像检测系统是为太阳能面板电致发光检测和光致发光检测设计的硅片发光检测成像系统,广泛用于太阳能硅片缺陷检测,可用于在从完全黑暗到完全阳光照射的环境条件下进行EL电致发光成像,还可在阳光直射下获得PL光致发光图像,方便用户在基地或野外进行操作太阳电池硅片缺陷检测。
超分辨率显微镜 FPLIG-NANORO
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这款超分辨率显微镜NANORO是一款分辨率突破100nm的纳米超高分辨率显微镜,采用超高分辨率微球透镜光学显微镜技术,突破了光学衍射极限,为用户带来超高光学分辨率体验。
OLED寿命测试仪 FPOSS-OLED-lifetime
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OLED寿命测试仪提供长期稳定的OLED寿命测量功能,为*化OLED器件稳定性降低OLED衰退提供帮助。OLED寿命测试仪提供8像素和6像素衬底寿命测量能力,适合主流OLED器件寿命测量任务。
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