光学镀膜检测仪PHOTON RT UV-VIS-MWIR是为光学镀膜分析检测设计的镀膜扫描分光光度计,满足光学样品的无人值守薄膜测量。测量基片上同一区域的透射率和绝对镜面反射率–非常适合薄膜设计的反向分析,有效波长范围为185nm至5200nm，有六种配置。
光学镀膜检测仪特点
在单个仪器中记录宽波长范围配置：185-5200 nm
与市场上的其他工具相比，测量速度快10倍以上
改变入射角后无需重新校准基线
测量基片上同一区域的透射率和绝对镜面反射率–非常适合薄膜设计的反向分析
*****的测量通道头代表了此类***复杂和***有能力的机制，可用于表征不同AOI、极化下的涂层，光束偏差和光束位移范围大，可达+/-60,0 mm
复杂的单元件和胶合棱镜的完全无人值守测量：分束器、鸠棱镜、直角棱镜、五棱镜和半五棱镜、菱形棱镜、屋顶棱镜、施密特棱镜、佩肯棱镜。棱镜可以安装或卸载。
可测量极限入射角
改变入射光点大小
测量UV紫外光学薄膜
可选光谱范围：185-1700nm, 185-3500nm, 185-5200nm, 380-1700nm, 380-3500nm, 380-5200nm
单色仪（摄谱仪）: Czerny-Turner
波长采样间隔：0.1-100nm
波长扫码速度：3000nm/min @5nm采样步长
