当前位置: 首页  >> 产品展示  >> 材料物理仪器  >> UHV扫描探针显微镜  >> 查看详情
超高真空超低温四探针SPM
  • 超高真空超低温四探针SPM_UHV极低温多探针扫描探针显微镜-孚光精仪

超高真空超低温四探针SPM

这超高真空超低温四探针SPM是超高真空室内应用设计的UHV极低温多探针扫描探针显微镜,得益于多探针SPM优异性能,这款产品可用于纳米技术。这超高真空超低温四探针SPM采用四个独立控制的探针扫描显微镜,用于器件评价和超低温等宽温度范围内的微纳尺度表面电导率测量。
型号:
FPUNI-USM1400-4P
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-51300728 您也可网站留言或在线客服留言垂询,孚光精仪-领先的进口精密仪器服务商欢迎您!

销售排行榜

    暂无信息

推荐

    暂无信息

浏览历史

  • 商品详情

超高真空超低温四探针SPM是超高真空室内应用设计的UHV极低温多探针扫描探针显微镜,得益于多探针SPM优异性能,这款产品可用于纳米技术。
超高真空超低温四探针SPM采用四个独立控制的探针扫描显微镜,用于器件评价和超低温等宽温度范围内的微纳尺度表面电导率测量。
超高真空超低温四探针特征
利用SEM实现纳米级定位
每四个探针都有STM/AFM功能
纳米尺度四端电导测量
分子束外延超高真空室
准备好进行光辐照、发射测量、高频测量
孔效应,自旋测量适用于使用超导线圈(可选)
$title
超高真空超低温四探针SPM应用
用微纳米尺度测量导电薄膜的四端电阻率
纳米结构和纳米点的电导率测量
有机导电层和半导体电导率的温度依赖性测量
纳米器件的局部电特性分析
不同温度下的STM成像
广泛应用于表面分析
超高真空超低温四探针SPM规格参数
分辨率: XY<2pm, Z<0.2pm
磁场:无
高真空:<10^-8Pa
超低温:3-100K可调温度
STM: 可选配
其它:可以配备安装透镜,用于连接其它光学仪器

  四探针STM头
最大扫描范围 (X×Y×Z) 0.38 × 0.38 × 0.38 µm3 @ 5 K
最小分辨率(STM) X, Y: 0.1 nm (Atomic resolution)
 Z: Under 0.02 nm
样品和探针台 MAX range X, Y: 5 mm; Z: 3 mm
  FE-SEM
最小分辨率 20 nm (acceleration voltage 25 kV, WD 15 mm, probe current 1 nA)
MAX field of view 3 mm × 3 mm (acceleration voltage 5 kV)

相关商品

    暂无信息
多 快 好 省
新手上路
顾客必读会员等级折扣商品退货保障
购物指南
购物流程会员介绍常见问题联系客服
配送方式
上门自提211限时达配送服务查询配送费收取标准海外配送
支付方式
货到付款在线支付邮局汇款公司转账
售后服务
售后政策价格保障退款说明返修/退换货

在线客服系统