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四探针测试仪
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四探针方块电阻测量仪 FPTOH-4PP
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0.00
四探针方块电阻测量仪是为Sheet Resistivity薄层电阻率测量设计的四点探针电阻测量仪器,满足各种材料的薄层电阻率测量,包括IV族半导体、金属和化合物半导体,以及平板显示器和硬盘中发现的新材料。
自动四探针电阻率mapping测试系统 FPMIC-A4P
品牌:
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0.00
自动四探针电阻率mapping测试系统是为晶圆电阻率绘图mapping设计的工业级自动四点探针电阻率测试系统。采用成熟的行业标准,提供快速、准确和可靠的晶圆样品电阻率分布测量。
四探针电阻率电导率计 FPOSS-FOURPOINT
品牌:
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0.00
这款四探针电阻率电导率计可快速测量材料的薄层电阻,方块电阻,sheet resistance电阻率和电导率,适合多种材料和样品测量。
晶圆电阻率测试仪 FPEH-MX60
品牌:
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0.00
晶圆电阻率测试仪采用非接触方式测量晶圆电阻率,测量P/N类型和晶圆厚度,适合硅材料和其它材料的Sheet Resistance测量。
四点探针系统 FPOSS-FOUR-PROBE
品牌:
价格:
0.00
这款四点探针系统用于快速测量材料的片电阻、电阻率和电导率。四点探针系统包括一个四点探针、源测量单元和易于使用的PC软件。
四探针电阻率仪 FPPVT-FPP-SCAN
品牌:
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0.00
这款四探针电阻率仪是采用四点探针测量电阻率技术的四探针电路率测试仪。
全自动四探针电阻率计 FPMIL-FPP-5000
品牌:
孚光精仪
价格:
0.00
这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器,它采用微处理器电路直接计算出V/I数值,表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。
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