OLED寿命测试仪提供长期稳定的OLED寿命测量功能,为*化OLED器件稳定性降低OLED衰退提供帮助。
OLED寿命测试仪提供8像素和6像素衬底寿命测量能力,适合主流OLED器件寿命测量任务。
OLED寿命测试仪的自动测试板控制一系列的开关,这些开关可以在不需要用户干预的情况下循环通过像素点。电子元件垂直堆叠,减少了系统的占地面积,减少了浪费的实验室空间。这个小的尺寸还允许将寿命测试仪放置在以前不方便的地方,如手套箱。
设备固定在光电二极管盖下的测试板内。该系统利用两个内置的int源测量单元(smu)来描述设备的特性。一个SMU通过测试板执行JV操作,而另一个SMU测量光电二极管电流。测试板和光电二极管通过BNC电缆连接到源测量单元。
一个直观和高度可定制的OLED寿命软件套件执行合资企业,JVL和寿命测量。
用户可以执行初始的JV/JVL扫描以确定LED和光电二极管的工作电流。然后,该数据用于选择开始寿命测量的LED或光电二极管电流。电压会自动调整,以保持LED电流在所需测量时间内保持恒定。
JVL和生存期数据都可以输出到一个.csv文件中,以便于文档记录。