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硅锭寿命测量仪
  • 硅锭寿命测量仪适合单晶硅硅锭和多晶硅硅锭寿命测量-孚光精仪

硅锭寿命测量仪

硅锭寿命测量仪是精确的非接触式测量本体寿命的仪器,适合任意生长硅锭表面任意曲率半径硅锭测量寿命。也适合单晶硅硅锭和多晶硅硅锭寿命测量。
型号:
FPSIN-BCT-400
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-51300728 您也可网站留言或在线客服留言垂询,孚光精仪-领先的进口精密仪器服务商欢迎您!

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硅锭寿命测量仪是精确的非接触式测量本体寿命的仪器,适合任意生长硅锭表面任意曲率半径硅锭测量寿命。也适合单晶硅硅锭和多晶硅硅锭寿命测量。
硅锭寿命测量仪特点
寿命1-10+ms寿命范围的高纯硅测量
测量B-Cz硅生长,不要表面处理
对于多晶硅模块,可给出寿命和陷阱密度等数据。
探测B-O缺陷,铁污染和表面损伤等
监控初始材料在Cz, Fz,多多晶硅或UMG硅的质量
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硅锭寿命测量仪规格参数
测量指标:寿命,电阻率和trap density 
寿命测量范围:100ns~10ms 
电阻率测量范围:0.5~300Ohm-cm 
测量分析模式:QSSPC,瞬态,寿命分析

光偏置范围:0-50suns
样品表面:平整表面或者150mm直径以内的多种表面
典型校准范围:10^13-10^16 cm^-3
光谱:白光和IR光照明
传感器面积:45x 15mm 
测量深度:3mm 
工作温度:20~25度
 

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