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红外显微镜
  • 红外显微镜采用显微热像仪技术和共聚焦热反射显微镜技术-孚光精仪

红外显微镜

这款红外显微镜采用显微热像仪技术和共聚焦热反射显微镜技术,高精度测量芯片,MEMS等微纳器件温度值和温度分布。非常适合器件热分析和热测试。
型号:
FPNAN-CTRM700
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
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这款红外显微镜采用显微热像仪技术和共聚焦热反射显微镜技术,高精度测量芯片,MEMS等微纳器件温度值和温度分布。非常适合器件热分析和热测试。
这款红外显微镜和热反射显微镜在样品表面或内部的特定面上发生温度变化,通过激光扫描的方式测量光反射率变化的分布,通过获得发热影像的技术超越Wide-field涅盘显微镜的优秀,提供热影像分辨率。
红外显微镜和热反射显微镜根据测量样品的温度,样品的光学反射率发生变化。根据物理现象,通过测量光学反射率来计算目标样品温度的技术,通过红外线影像等传统发热影像成像技法无法获得的局部领域。
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红外显微镜和热反射显微镜应用
根据半导体及显示器元件的细微化及三维固执化所要求的微细元件的发热分布测量及分析,在应用程序中,现有的红外线热气腾腾的发热影像显微镜的空间分辨率达到了其性能的极限。
红外显微镜和热反射显微镜在需要热分析的多种应用程序中,以现有方式是不可能的高热影像空间通过提供分解功能,将成为发热分布测量及分析的新解决方案。
-半导体元件发热特性测定及分析
-检查喇叭显示面板缺陷
-OLED内部细微缺陷检查
-高功率元件发热特性测定及分析
-根据红外线图像传感器单位像素结构
发热特性测定及分析
-氧化物薄膜晶体管发热特性分析
-三维积层型半导体发热特性测定及分析
-可调显示用氧化物薄膜晶体管
发热特性测定及分析
-LED元件发热特性测定及分析
-半导体激光发热特性测定及分析
-气体传感器用MEMS元件发热特性测定及分析
-InGaZnO薄膜晶体管发热特性及可靠性分析
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