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双折射偏振态测试仪
  • 双折射偏振态测试仪_多功能光谱偏振台测试仪_Spectroscopic Polarimeter-孚光精仪

双折射偏振态测试仪

这款双折射偏振态测试仪是多功能光谱偏振态测试仪,Spectroscopic Polarimeter,可测量400nm~800nm范围每个波长的偏振态。该双折射偏振态测试还具有斯托克斯偏振态分析、穆勒矩阵测量和映射mapping测量等功能,非常适合液晶显示器、投影仪、偏振光学元件、偏振光学、晶体、生物样品、荧光偏振等偏振态测量分析。
型号:
FPTOK-Poxi
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-2279 9028 您也可网站留言或在线客服留言垂询,孚光精仪-**的进口激光精密科学仪器服务商欢迎您!

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这款双折射偏振态测试仪多功能光谱偏振态测试仪,Spectroscopic Polarimeter,可测量400nm~800nm范围每个波长的偏振态。该双折射偏振态测试还具有斯托克斯偏振态分析、穆勒矩阵测量和映射mapping测量等功能,非常适合液晶显示器、投影仪、偏振光学元件、偏振光学、晶体、生物样品、荧光偏振等偏振态测量分析。
双折射偏振态测试仪特点
•无需校准,仪器在整个波长范围内进行了校准。
•波长分辨率高达2nm,采用分光计代替带通滤波片。
•可测量发散角和散射光,不仅可以测量准直光,还可以测量各种物质发光和反射光。
•用户友*软件,控制软件非常易用,便于用户控制和查找结果,测量结果存储在csv文件中。
各种偏振能力测量
•双折射测量:在010nm量级范围内,可同时测量快轴方向和延迟量。
•穆勒矩阵测量:可以进行*高水平的偏振分析。
•Mapping绘图能力:自动XY工作台可选配,方便样品偏振特性的分布。
客户订制化系统
我们可以对标准斯托克斯偏振测量仪 按照客户要求进行定制,比如紫外-近红外(UV-NIR)偏振态测量仪、用于测量微弱光的高灵敏度斯托克斯偏振测量仪系统、连接到显微镜上的斯托克斯偏振测量仪系统等等。
偏振样品的高级分析
利用外加的偏振态发生器(PSG)和软件可以测量样品的偏振特性。斯托克斯偏振测量仪的PSG和测量头单元可自由布置。它为需要构建适合多种应用的测量系统的用户提供了方便。从测量的几个stokes参数可以计算出如下偏振特性。
线二色性——线偏振光吸收
圆二色性——圆偏振光的吸收
线性双折射——相移(线性圆偏振)
旋光——线偏振的旋转
去极化——降低DOP的能力
双折射偏振态测试仪规格
测量参数              斯托克斯参数(S0S1S2S3),椭圆度,偏振方向,偏振度(DOPDOLPDOCP),偏振消光比
数据绘图            图形(波长v.s.参数),图形(数据点v.s.参数数量),庞加莱球,Ellips视图,警报(低光,饱和时)
特色功能             单次扫描,连续扫描,确认扫描,自动曝光
斯托克斯偏振计
波长范围                         400800nm
波长分辨率                     <2nm
波长数                              1500
***小测量时间                    6
高精度模式测量时间     >20
精度                           <2%
重复精度                  0.01@3σ(斯托克斯参数)
方向精度                          ±0.2度(基准面为底面)
测量原理                           波片旋转、波片和分析仪旋转
双折射偏振计
原理                       双斯托克斯数据分析
波长                      与斯托克斯偏振计相同
测量时间                   斯托克斯测量值的2
迟滞范围                  0~λ/2纳米,使用拟合方法,***大值为100000nm
快速轴范围                          ±90
重复性                             1度(延迟)
穆勒矩阵偏振计可选
原理                       四斯托克斯数据分析
波长                       与斯托克斯偏振计相同
测量时间                    斯托克斯测量值的4
重复性                      ±0.0116个矩阵元素)
数据分析              线性二向衰减,圆形二向衰减线性双折射,圆双折射,去偏振

 

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