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  • 自动四探针电阻率mapping测试系统是为晶圆电阻率绘图mapping设计的工业级自动四点探针电阻率测试系统。采用成熟的行业标准,提供快速、准确和可靠的晶圆样品电阻率分布测量。
  • 这款四探针电阻率电导率计可快速测量材料的薄层电阻,方块电阻,sheet resistance电阻率和电导率,适合多种材料和样品测量。
  • 多功能翘曲度测定仪是一款多参数翘曲度测试仪器,可以测量PCB,IC等翘曲度,应变等参数,更可以检测随温度变化的翘曲度值。多功能翘曲度测定仪应用范围包括条带、晶圆或WLP上的单元或PCB板上的封装区域的高分辨率特性。
  • 晶圆晶锭寿命测定仪是为晶圆晶锭测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度及p/n检查任务设计的晶圆晶锭少子寿命测试仪器。采用非接触式检测和无损成像(μPCD /MDP(QSS))设计。
  • 微波探测光致电流瞬态谱仪采用微波技术探测材料的光生电流瞬态光谱值,非常适合温度依赖的少子寿命测量和半导体界面陷阱。
  • 单点少子寿命测量仪系统是经济型晶圆寿命测量仪器,对不同制备阶段的硅材料电学参数进行表征。单点少子寿命测量仪可测量小于156mm厚度的晶锭,没有自动化配置,手工操作。可增配电阻率测试功能,适合硅,晶圆片和晶锭寿命测量。 
  • 单晶多晶硅片寿命测试仪是专用为晶圆品质检验,测量少子寿命,测量光电导率和电阻率等研发的晶圆寿命测试仪器
  • 晶圆电阻率测试仪采用非接触方式测量晶圆电阻率,测量P/N类型和晶圆厚度,适合硅材料和其它材料的Sheet Resistance测量。
  • 单点硅片测厚仪是采用单点测厚技术为硅晶圆厚度测量设计的硅晶圆测厚仪器。适合手动测量单点的晶圆厚度。
  • 晶圆翘曲度厚度测试仪是专业为晶圆翘曲度测量和晶圆厚度测量设计的晶圆厚度翘曲度测量仪器。
  • 高分辨率晶圆厚度测试仪能够高精度测量硅晶圆厚度和硅晶圆厚度变化,分辨率高达10nm,可满足不同的晶圆厚度范围。
  • Suns-Voc后扩散测试仪是Suns-Voc后扩散过程控制的理想仪器,适合用于浆料烧结优化和过程控制。
  • 太阳能电池I-V测试仪能够高精度高效率地测量太阳能I-V曲线和Suns-Voc数据,可高精度测量传统太阳能电池和背接触太阳能电池。
  • 这款温度型少子寿命测试仪是为25℃~200℃范围内晶圆少数载流子复合寿命测量设计的温度决定型少子寿命测定仪器。温度型少子寿命测试仪采用半标准准稳态光电导寿命测量方法QSSPC技术和瞬态光电导衰退技术测量在10ns~10ms范围的少子寿命。
  • 这款晶圆少子寿命测量仪是专业为晶圆少数载流子复合寿命测量设计的少子寿命测试仪器。晶圆少子寿命测量仪采用半标准准稳态光电导寿命测量方法QSSPC技术和瞬态光电导衰退技术测量在10ns~10ms范围的少子寿命。
  • 硅锭寿命测量仪是精确的非接触式测量本体寿命的仪器,适合任意生长硅锭表面任意曲率半径硅锭测量寿命。也适合单晶硅硅锭和多晶硅硅锭寿命测量。
  • 这款四点探针系统用于快速测量材料的片电阻、电阻率和电导率。四点探针系统包括一个四点探针、源测量单元和易于使用的PC软件。
  • 太阳能电池i-v测试系统是专业为光伏器件特性测量设计的太阳能电池i-v测量系统。太阳能电池i-v测试系统测量太阳能电池的电流-电压曲线,然后自动计算关键器件属性。此外,I-V测量可以随时间周期性地执行,以跟踪这些特性的稳定性。
  • 这款量子效率测试系统是为太阳能光伏量子效率测量设计的内量子效率测试系统和外量子效率测试系统,用于测定太阳能电池光谱响应,EQE(IPCE)和IQE。
  • 入射角修正系数测定仪是为光伏器件入射角修正因子测量设计的入射角修正系数测试系统,作为光伏器件的研究级入射角修正器IAM表征系统,系统包括可调和高度准直的宽带“白色”光源、光源激光对准系统、步进电机控制的样品台、高分辨率测量电子设备和配套软件,为用户提供交钥匙功能,到货即可使用。
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