当前位置: 首页  >> 产品展示  >> 激光加工测试系统  >> 激光测试系统  >> 查看详情
光子辐射显微镜
  • 光子辐射显微镜_Photoemission光子辐射定位系统可采集集成电路背部发射的红外光子-孚光精仪

光子辐射显微镜

光子辐射显微镜是为集成电路失效分析设计的Photoemission光子辐射定位系统,,可采集集成电路背部发射的红外光子,观察分析半导体的光子辐射,进而对半导体集成电路失效分析测试。
型号:
FPALP-Photoemission
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-51300728 您也可网站留言或在线客服留言垂询,孚光精仪-领先的进口精密仪器服务商欢迎您!

销售排行榜

推荐

浏览历史

  • 商品详情
光子辐射显微镜是为集成电路失效分析设计的Photoemission光子辐射定位系统,,可采集集成电路背部发射的红外光子,观察分析半导体的光子辐射,进而对半导体集成电路失效分析测试。
光子辐射Photoemission视图可帮助用户定位工作中的集成电路晶体管,确定重要的有效区域,并确定执行故障注入和/或定位侧槽工具。
$title
光子辐射显微镜具有如下两种观察模式:
标准红外成像模式:可从集成电路背部透过硅观察集成电路(如下图1)
光发射成像模式:可观察集成电路元器件的光电发射辐射(如下图2)
上述两种图像可重叠起来,更好观测失效的电子元器件Z(如下图3)
$title
图1:集成电路背部的红外成像图
图2: 光子辐射模式成像图
图3: 光子辐射图与红外成像图的叠加
光子辐射显微镜特点
非常适合集成电路背部光子辐射观测
快速工作能力,仅仅需要数百毫秒就可获得高质量光子辐射图像
可添加激光注入故障分析模块功能
多种相机供选择
光子辐射显微镜规格参数
光谱范围:900-1700nm 
分辨率:640x512像素
像素大小:15um x 15um
制冷方式:TEC

相关商品

多 快 好 省
新手上路
顾客必读会员等级折扣商品退货保障
购物指南
购物流程会员介绍常见问题联系客服
配送方式
上门自提211限时达配送服务查询配送费收取标准海外配送
支付方式
货到付款在线支付邮局汇款公司转账
售后服务
售后政策价格保障退款说明返修/退换货

在线客服系统