当前位置: 首页  >> 产品展示  >> 光纤光学仪器  >> 光纤测量仪器
品牌:
价格:
  • 光纤折射率分布分析仪可测量光纤折射率分布剖面,而不需要在375nm~2um波长处切割,适合任意光纤折射率剖面测量。
  • 多模光纤散斑抑制器MPX-SR3专业为减少抑制多模光纤散斑而设计的光纤振动器fiber shaker,非常适合透射光源在多模光纤传输中减少散斑的应用。
  • 光纤Encircled Flux测量仪MPX-2可实时测量光纤环形通量EF,只需将光纤信源和跳线连接到光纤Encircled Flux测量仪MPX上,就能实时测量光纤模态发射状况Modal Launch Conditions,非常适合1300nm波长的多模光纤模态分析。 (环形通量测量范围是900-1700nm,而端面检测和聚焦用1300nm)
  • 光纤环形通量测试仪MPX-1可实时测量光纤Encircled Flux(光纤EF),只需将光纤信源和跳线连接到光纤环形通量测试仪MPX上,就能实时测量光纤模态发射状况Modal Launch Conditions,非常适合850nm波长的多模光纤模态分析。(环形通量测量范围是400-1100nm,而端面检测和聚焦用850nm)
  • 光纤端面干涉检测仪VFI-1200是为光纤端面质量检测和光纤端面平整度检测设计的光纤端面检测系统,用于检查切割或抛光光纤端面表面质量和平整度。光纤端面检测干涉仪广泛用于科学实验,光纤生产等领域。
  • 光纤端面检测干涉仪VFI-200是一种干涉检测系统,用于检查切割或抛光光纤的表面质量和平整度。光纤端面检测干涉仪广泛用于科学实验,光纤生产等领域。视场:200微米,条纹分辨率:2微米/条纹,相机传感器尺寸:3088x2076像素。
  • 光纤特征参数测量仪FGC-GA是一种多功能光纤几何参数测量仪器,一台这样的仪器可以测量光纤v型槽块几何形状,芯对芯间距和芯X、Y偏移量,适合宽度高达15mm的多光纤阵列,具有1200微米视场以及自动横向扫描样品台方便测量。
  • 光纤几何尺寸测试仪FGC-GS可精确测量多模光纤芯径,包层直径,纤芯圆度,包层圆度,芯到包层同心度等指标,可测量直径达1000µm的多模光纤几何结构参数,可对光纤端面成像,适用于测量直径小于等于1000µm光纤的多模玻璃光纤几何结构。
  • 光纤几何参数检测仪FGC-GT可精确,测量光纤尺寸,可测量直径达400µm的光纤几何结构,可对光纤端面成像,适用于测量直径小于等于400µm光纤的玻璃纤维几何结构。
多 快 好 省
新手上路
顾客必读会员等级折扣商品退货保障
购物指南
购物流程会员介绍常见问题联系客服
配送方式
上门自提211限时达配送服务查询配送费收取标准海外配送
支付方式
货到付款在线支付邮局汇款公司转账
售后服务
售后政策价格保障退款说明返修/退换货

在线客服系统