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  • 模场直径有效面积测量系统是pe.fiberoptics公司光纤模场直径测试和光纤有效面积分析测量设计的MFD和Aeff测试仪器。
  • 光纤光谱衰减测量仪SA500HD是为光纤衰减测量设计的光纤衰减测试仪器,利用DSP和固态单色仪技术测量光纤光谱损耗对波长的变化。高动态范围允许测试现在在中发现的较长长度光纤和光缆,包括最新的G657 A&B光纤类型以及一些最新的海底光缆。
  • 多功能光纤测试仪具有光纤衰减,模场直径MFD,截止波长,数值孔径等光纤分析测量功能。多功能光纤测试仪采用全新的DSP和检测技术,大大降低了光纤测量噪音,提高了光纤测量速度。
  • PMD偏振模色散测试仪是为偏振模色散PMD测量设计的双折射色散测量仪器。
  • 光纤色散测试仪CD500是为光纤色散测量涉及的色散测量系统,具有测量PMD单模光纤中偏振色散功能,非常适光纤和光缆生产检测。
  • 光纤端面几何测量仪FiBO®300是一种多功能phase-shifting相移干涉仪,用于对裸光纤和非标准光纤连接器的光纤端面几何结构测量分析。可变光学变焦具有三种不同的放大倍数,可用于查看大多数光纤直径,并可使用多种光纤支架和附件轻松安装测试样品。
  • 光纤连接器端面检测仪FiBO®250是光纤接头端面干涉仪是对,可提供高分辨率3D表面计量和自动缺陷检测结合。
  • 光纤连接器端面测试干涉仪FiBO®200是经济型的光纤接头端面分析测量仪器。具有光纤接头高分辨率3D表面计量和自动缺陷检测功能。可在生产现场或现场快速方便地检查光纤连接器端面问题。
  • 这款高功率光纤合束器combiners是为高功率激光传输光纤耦合设计的高功率激光光纤合路器,可承受激光功率3000W的高功率激光,可把6路光纤合束为1路光纤输出。
  • 这款光纤色散测量仪是为光纤色散分析应用设计的光纤色散分析仪器,采用inometrix专利的Virtual Reference干涉仪技术,可与Agilent/Keysight 816XX系列可调谐激光器联合使用,测量群延迟、群速度色散和色散。
  • 光纤光谱衰减损耗测试仪FSL300系统提供了准确的光纤光谱损耗测量办法,在光纤质量控制过程、材料研究和光纤开发方面至关重要。
  • 光纤折射率分布分析仪可测量光纤折射率分布剖面,而不需要在375nm~2um波长处切割,适合任意光纤折射率剖面测量。
  • OTDR跳线盒 FPARD-OTDR

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    OTDR跳线盒是为光纤测试设计的OTDR测试延长盒和死区消除器,有助于将光时域反射仪OTDR发射脉冲的影响降至最低,从而提高测量精度。我们的高品质发射箱有三种不同的外壳形式。
  • 850nm/1300nm光纤测试光源是为多模光纤损耗测试设计的光纤损耗测试LED光源,与光功率计一起用于多模光纤系统损耗测量,应用于需要85/85%有限相空间模式发射条件的应用中。 85/85%模态发射条件专门用于航空航天工业,并且被空中客车公司广泛用于光纤线束的认证。850nm/1300nm光纤测试光源多模光纤测试中必不可少的光源,特别是850nm LED光源,LED光在多模纤芯的整个截面发光相对均匀,而 VCSEL光源发出的光束狭窄,光集中在纤芯的中心,离开中心后迅速减弱;到接近包层分界面的地方则基本消失。
  • 光纤模式控制器ModCon Aerospace是为航空航天光纤损耗测试和光纤带宽测试设计的多模光纤模式控制器,旨在确保无论您使用不同源(LED、激光、OTDR或白光)测试多模光纤网络的损耗和带宽,都可以将相同的模式分布发射到光纤中。因此可以消除由于光纤测量和网络中常用的光源的模态特性差异引起的测试结果变化,提供可重复性的光纤环形通量发射条件。适合 50/125µm和62.5/125µm折射率渐变光纤,可用于FC, ST, SC或LC连接头。
  • 光纤模态控制器ModCon Telecom是为光纤损耗测试和光纤带宽测试设计的多模光纤模式控制器,旨在确保无论您使用不同源(LED、激光、OTDR或白光)测试多模光纤网络的损耗和带宽,都可以将相同的模式分布发射到光纤中。因此可以消除由于光纤测量和网络中常用的光源的模态特性差异引起的测试结果变化,提供可重复性的光纤环形通量发射条件。
  • 多模光纤散斑抑制器MPX-SR3专业为减少抑制多模光纤散斑而设计的光纤振动器fiber shaker,非常适合透射光源在多模光纤传输中减少散斑的应用。
  • 光纤Encircled Flux测量仪MPX-2可实时测量光纤环形通量EF,只需将光纤信源和跳线连接到光纤Encircled Flux测量仪MPX上,就能实时测量光纤模态发射状况Modal Launch Conditions,非常适合1300nm波长的多模光纤模态分析。 (环形通量测量范围是900-1700nm,而端面检测和聚焦用1300nm)
  • 光纤环形通量测试仪MPX-1可实时测量光纤Encircled Flux(光纤EF),只需将光纤信源和跳线连接到光纤环形通量测试仪MPX上,就能实时测量光纤模态发射状况Modal Launch Conditions,非常适合850nm波长的多模光纤模态分析。(环形通量测量范围是400-1100nm,而端面检测和聚焦用850nm)
  • 光纤端面干涉检测仪VFI-1200是为光纤端面质量检测和光纤端面平整度检测设计的光纤端面检测系统,用于检查切割或抛光光纤端面表面质量和平整度。光纤端面检测干涉仪广泛用于科学实验,光纤生产等领域。
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