光纤特征参数测量仪FGC-GA是一种多功能光纤几何参数测量仪器,一台这样的仪器可以测量光纤v型槽块几何形状,芯对芯间距和芯X、Y偏移量,适合宽度高达15mm的多光纤阵列,具有1200微米视场以及自动横向扫描样品台方便测量。
光纤特征参数测量仪-暗场照明
暗场照明系统允许软件显示一个清晰的实时图像的阵列。这允许用户检查和成像的前面的阵列,并采取的V凹槽自己的测量。具有图像拼接的光纤特征参数测量仪FGC-GA能够以完美的细节生成v型槽阵列整体的完整图像。
光纤特征参数测量仪高效的软件
该
光纤特征参数测量仪FGC附带了一个有效的软件包,其中包含在反射和传输模式之间切换的控制。这允许用户快速和容易得到核心和包层的几何测量,包括直径,非圆度和同心度。该软件包含所有标准电信光纤的测量模板,不过用户也可以创建自己的测量模板。这样就可以测量许多特殊类型的光纤,包括双包层光纤、弯曲不敏感光纤、多芯光纤等等。
光纤特征参数测量仪规格参数
单根光纤测量能力
光纤直径:高达1000微米
单模:标准电信
多模(
梯度折射率):OM1,OM2,OM3,OM4
多模(阶跃折射率):从 50/125µm到1000µm包层直径
保偏光纤:80µm, 125µm PANDA
双包层光纤:***小层厚20µm
多芯光纤:***高7芯
非圆光纤:5-8
测量重复精度如下:
芯径 <0.1µm
包层直径 <0.25µm
纤芯非圆度 <0.05%
包层非圆度 <0.1%
芯到包层同心度 <0.15µm
光纤阵列测量性能
***大光纤宽度:15mm
光纤类型:单模,多模,保偏光纤
测量时间:<1分钟 @3个光纤阵列
MT ferrules: 芯相对于导销的位置
测量重复精度如下:
芯径 <0.1µm
纤芯X/Y偏移 <0.25µm
纤芯非圆度 <0.05%
纤芯-纤芯距离 <0.1%
光纤照明(反射):双波长,850nm和525nm可转换
光纤照明(透射):多LED阵列,850nm,
光纤照明(保偏):外部模块,适合80~125微米
***大视场:1200微米
成像CCD: 4864x3232像素分辨率
曝光: 全局快门,0.1ms到100ms曝光时间