光学测量系列|光学表面形貌仪器_光谱椭偏仪_薄膜测厚仪_原子力显微镜等精密光学仪器-孚光精仪

入射角修正系统测定仪 FPHYP-IAM
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入射角修正系数测定仪是为光伏器件入射角修正因子测量设计的入射角修正系数测试系统,作为光伏器件的研究级入射角修正器IAM表征系统,系统包括可调和高度准直的宽带“白色”光源、光源激光对准系统、步进电机控制的样品台、高分辨率测量电子设备和配套软件，为用户提供交钥匙功能，到货即可使用。
太阳能电池发光成像检测系统 FPHYP-HELIOS
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太阳能电池发光成像检测系统是为太阳能面板电致发光检测和光致发光检测设计的硅片发光检测成像系统,广泛用于太阳能硅片缺陷检测，可用于在从完全黑暗到完全阳光照射的环境条件下进行EL电致发光成像,还可在阳光直射下获得PL光致发光图像,方便用户在基地或野外进行操作太阳电池硅片缺陷检测。
超分辨率显微镜 FPLIG-NANORO
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这款超分辨率显微镜NANORO是一款分辨率突破100nm的纳米超高分辨率显微镜,采用超高分辨率微球透镜光学显微镜技术,突破了光学衍射极限,为用户带来超高光学分辨率体验。
OLED寿命测试仪 FPOSS-OLED-lifetime
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OLED寿命测试仪提供长期稳定的OLED寿命测量功能,为优化OLED器件稳定性降低OLED衰退提供帮助。OLED寿命测试仪提供8像素和6像素衬底寿命测量能力,适合主流OLED器件寿命测量任务。
大型晶圆探针台 FPPRB-600LS
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大型晶圆探针台600LS是专业为300mm晶圆测试设计的大尺寸晶圆测试探针台系统,广泛用于6''晶圆,8''晶圆和12''晶圆探针测试应用。
低温探针台系统 FPMDC-411
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这款低温探针台系统提供近液氮温度77K情况下电子安静的高灵敏度电容和电流测量功能，它采用电子防护罩确保电子安静且控制环境操作。
C-V/I-V特性测试仪 FPMDC-C-V
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C-V/I-V特性测试仪是为半导体C-V特性分析测试和I-V特性测试分析设计的C-V/I-V测试系统。C-V/I-V特性测试仪具有较高的C-V测试精度，提供流线型C-V曲线和偏置温度压力程序，方便用户使用，点击鼠标就可测量C-V曲线，显示所有C-V曲线绘图和测试结果。密码保护功能允许使用人员预设所有C-V测试结果和压力测试周期。测试结果可保存起来用于后来分析。
量子效率测量系统 FPPVT-IQE-SCAN
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量子效率测量系统是为晶体硅太阳能电池IQE内量子效率测量分析设计的内外量子效率测试测量系统,也可以测量EQE外量子效率和光谱反射。
四探针电阻率仪 FPPVT-FPP-SCAN
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这款四探针电阻率仪是采用四点探针测量电阻率技术的四探针电路率测试仪。
主动磁场屏蔽消磁系统 FPMD-ECS
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这款主动磁场屏蔽消磁系统是专业为电镜等电子束仪器屏蔽磁场干扰而设计的主动磁场屏蔽和主动消磁装置系统.用于为科学仪器装置免受磁场干扰影响的环境.主动磁场屏蔽消磁系统在原有的磁场屏蔽室内增设主动磁场消磁仪器,为精密科学仪器提供磁场屏蔽环境。
手动探针台 FPCRE-BU
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这款手动探针台BU-4提供4''样品真空卡盘和4'' x 4''滚珠轴承螺杆位移台,带有精确theta角控制,磁性不锈钢顶部压板平台带有升降功能。配备三丰长距离物镜后非常适合FA整修和探针应用,可配备多种相机。
范德瓦尔斯转移台 FPCRE-van-der
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范德瓦尔斯转移台VAN DER WAALS是为半导体芯片不同材料在精确位置的堆积过程研究设计的范德瓦尔斯位移台。
激光微调系统 FP-trimming
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激光微调系统是专业为半导体器件修整设计的激光修整系统.这款激光微调系统可以采用NEWWAVE公司的激光微调主机和266nm,355nm,532nm和1064nm激光器,广泛用于失效分析,电阻微调修整,修理MEMS器件,修理清除平板阵列污染物。
近场扫描光学显微镜 FPDEL-nsom
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近场扫描光学显微镜NSOM采用SNOM技术帮助用户获得最大的光学空间分辨率,具有原子力显微镜模式和光子计数模式的荧光和光学图像。
纳米干涉形貌仪 FPOST-IMOS
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纳米干涉形貌仪nanoprofilometer是采用微纳干涉显微镜部分相干光的干涉技术制造的纳米轮廓仪和纳米形貌仪,可定量测量微米尺度和纳米尺度表面形貌轮廓,并且几秒钟能够采集2百万数据点。
三维台阶仪 FPTTZ-STEP-profiler
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这款三维台阶仪是德国进口的高精度光学台阶仪器,也是一款光学表面台阶仪适合台阶高度测量,具有较低的进口台阶仪品牌台阶仪价格,适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量。
磁场屏蔽消磁仪 FPSTEF-MK-1
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这款磁场屏蔽消磁仪MK-1用于MRI核磁共振和生物磁应用的单轴磁场消除和电磁噪音屏蔽消除,非常适合当磁场传感器不能放置在屏蔽空间内的应用。例如在MRI应用中,由于MRI核磁共振扫描系统的高边缘场,传感器通常安装在屏蔽室之外。
磁场消除系统 FPSTEF-MR-3
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这款磁场消除系统专业为扫描电镜,聚焦离子束FIB消磁或电磁屏蔽设计的消磁仪器和磁场补偿系统,有效屏蔽消除磁场噪声问题,为电子显微镜,电子和离子束实验,磁共振成像MRI,生物磁研究提供了无磁噪音环境。这款磁场消除系统采用磁场反馈补偿系统,通过建立相反方向的补偿磁场达到降低磁场噪声的目的。这款磁场消除系统在从DC到〜1 kHz的频率范围内可连续补偿磁场的干扰。
法拉第屏蔽箱 FPSTA-1FC-075
品牌:孚光精仪 价格:0.00

法拉第屏蔽箱采用法拉第笼,Faraday Cage原理,是降低电磁干扰的有效法拉第箱和电磁屏蔽箱,非常适合电磁敏感或电磁干扰严重的仪器实验屏蔽电磁干扰使用,比如共聚焦显微镜,电生理学实验,传感器校准定标等。
法拉第罩壳 FPSTA-1FC
品牌:孚光精仪 价格:0.00

法拉第罩壳采用法拉第笼,Faraday Cage原理,是降低电磁干扰的有效法拉第罩和法拉第壳，非常适合电磁敏感或电磁干扰严重的仪器实验屏蔽电磁干扰使用,比如共聚焦显微镜,电生理学实验,传感器校准定标等。
硅片厚度测量仪 FPZEB-P-1D
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该硅片TTV厚度测试仪是采用红外干涉技术的硅片厚度测量仪，能够精确测量硅片厚度和测量TTV总厚度变化，也能实时测量超薄晶圆厚度（掩膜过程中的晶圆），硅片厚度测试仪非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等厚度测量应用。