这款
显微薄膜测量仪是一款
多功能薄膜测厚仪和显微分光光度计，可以结合显微镜
测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率以及
测量薄膜荧光。这款
显微薄膜测试仪通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,
测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
整套
显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。
![$title]( "$title")
薄膜厚度测试仪软件
这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。
对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。
对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。
显微薄膜测量仪标准参数
可测膜厚： 10nm-150微米；
波长范围：200-1100nm
精度：0.5%
分辨率：0.02nm
光源：使用显微镜光源
光斑大小：由显微镜物镜决定
计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：120x120x120mm
重量：1.2kg
薄膜厚度测试仪应用
测量薄膜吸收率,透过率
测量化学薄膜和生物薄膜测量
光电子薄膜结构测量
半导体制造
聚合物测量
在线测量
光学镀膜测量
