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场致发射显微镜
  • 场致发射显微_荧光显微热像仪Field Emission Microscope适合半导体器件漏电查找定位-孚光精仪

场致发射显微镜

场致发射显微镜Field Emission Microscope是专业为半导体器件漏电和门控问题设计的荧光显微热像仪,可确定Ohmic断路位置。场致发射显微镜确定断路位置,快速而清洁,不需要在晶圆上涂层镀膜,可以在1000nm以下和1800nm波段显示漏电和门控问题。
型号:
FP-Field-Emission
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
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场致发射显微镜Field Emission Microscope是专业为半导体器件漏电和门控问题设计的荧光显微热像仪,可确定Ohmic断路位置。
场致发射显微镜确定断路位置,快速而清洁,不需要在晶圆上涂层镀膜,可以在1000nm以下和1800nm波段显示漏电和门控问题。

场致发射显微镜
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图示:场致发射显微镜Field Emission Microscope及其结果

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