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入射角修正系统测定仪
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入射角修正系统测定仪

入射角修正系数测定仪是为光伏器件入射角修正因子测量设计的入射角修正系数测试系统,作为光伏器件的研究级入射角修正器IAM表征系统,系统包括可调和高度准直的宽带“白色”光源、光源激光对准系统、步进电机控制的样品台、高分辨率测量电子设备和配套软件,为用户提供交钥匙功能,到货即可使用。
型号:
FPHYP-IAM
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
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入射角修正系数测定仪是为光伏器件入射角修正因子测量设计的入射角修正系数测试系统,作为光伏器件的研究级入射角修正器IAM表征系统,系统包括可调和高度准直的宽带“白色”光源、光源激光对准系统、步进电机控制的样品台、高分辨率测量电子设备和配套软件,为用户提供交钥匙功能,到货即可使用。
入射角修正系数测定仪为每个终端用户的应用而定制,特别是在光伏器件的外形尺寸和可用的工作距离方面。一个重要的系统参数是光源和样品台之间的工作距离,因为光源的准直度随着工作距离的增加而增加。工作距离主要受安装位置的空间限制。测量采集时间随着入射角(AOI)的增加而增加,AOI值越大,测量信号越小。使用优化的低噪声测量体系结构和统计信号处理算法,在每个AOI处最小化采集时间。这些系统功能可实现无与伦比的测量分辨率。
入射角修正系统测定仪
PV光伏电池和组件的制造并不相同,尤其是考虑到它们更精细的性能参数。不仅要使正常入射[ISC(θ=0)]下的电池短路电流最大化,短路电流对入射角的依赖性[ISC(θ)]应尽可能地遵循余弦定律,甚至可以用最先进的光学设计超越它。仔细优化ISC(θ)对于构建集成光伏(BIPV)应用和其他固定倾斜部署特别重要。ISC(θ)可以通过仔细选择光学元件、它们的接口和制造工艺来优化。由于每种材料的制造特性都会影响ISC(θ),因此,对制造的光伏电池的ISC(θ)进行高分辨率表征将揭示系统级的细节,否则很难揭示这些细节。
入射角修正系数测定仪规格
光源准直:<0.4度发散角(工作距离18.29m)
准直光束直径:适合无掩膜最大15.6cm硅电池片,适合更大尺寸的掩膜硅电池片
相对角误差:<0.02度
系统保质期:1年
图1是从典型硅光伏组件获得的Eos IAM特征数据与历史应用的默认IAM模型的比较。简化的ASHRAE模型低估了低AOIs的相对响应,高估了AOIs在70°以上的相对响应。

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