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  • C-V/I-V特性测试仪是为半导体C-V特性分析测试和I-V特性测试分析设计的C-V/I-V测试系统。C-V/I-V特性测试仪具有较高的C-V测试精度,提供流线型C-V曲线和偏置温度压力程序,方便用户使用,点击鼠标就可测量C-V曲线,显示所有C-V曲线绘图和测试结果。密码保护功能允许使用人员预设所有C-V测试结果和压力测试周期。测试结果可保存起来用于后来分析。
  • 这款四探针电阻率仪是采用四点探针测量电阻率技术的四探针电路率测试仪。
  • 硅片厚度测量仪 FPZEB-P-1D

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    该硅片TTV厚度测试仪是采用红外干涉技术的硅片厚度测量仪,能够精确测量硅片厚度和测量TTV总厚度变化,也能实时测量超薄晶圆厚度(掩膜过程中的晶圆),硅片厚度测试仪非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等厚度测量应用。
  • 玻璃翘曲度测量仪 FPZEB-P-1E

    品牌:进口/美国 价格:0.00
    这款玻璃翘曲度测量仪是大尺寸玻璃弯曲度测量仪和玻璃弯曲度测试仪,广泛用于翘曲度测量,弯曲度测量,表面形貌测量和镀膜测量等。玻璃翘曲度测量仪,玻璃弯曲度测量仪,玻璃弯曲度测试仪由孚光精仪公司进口,专业为太阳能玻璃翘曲度测量或光伏玻璃翘曲度测量而设计。
  • 全自动四探针电阻率计 FPMIL-FPP-5000

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器,它采用微处理器电路直接计算出V/I数值,表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。
  • 多功能翘曲度测量仪 FPZEP-BOW

    品牌:孚光精仪 价格:0.00
    翘曲度测量仪是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。适合光伏电池翘曲度测量,太阳能电池翘曲度测量,晶圆翘曲度测量,硅片翘曲度测量,晶片翘曲度测量。
  • 多功能量子效率测量系统 PM-QE

    品牌:进口/欧洲 价格:0.00
    这套多功能太阳能电池量子效率测量系统是多用途量子效率测试系统,一套量子效率测试系统可以测量:薄膜厚度, 折射率,透过率,光学常数, 光谱响应(Spectral Response, SR, A/W), 外量子效率(External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和 内量子效率(Internal Quantum Efficiency, IQE,%).
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