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  • 晶圆缺陷检测显微镜采用近红外和短波红外相机,具有良*的亚表面成像能力,可穿透硅和其它晶圆材料隐藏缺陷,feichang适合半导体,MEMS,微电子应用。
  • EMMI微光显微镜是为IC失效分析设计的高灵敏度光发射显微镜.
  • 回流焊翘曲度检测仪是为回流焊制程中的翘度度和平坦度成像分析设计的回流焊模拟仪器。它能够再现回流焊环境温度,让加热中的PCB表面贴装电子元件,电路板翘曲,平整度再现可视,从而发现表面贴装不良的原因。
  • 中红外光学光热光谱显微镜是采用光学光热红外光谱O-PTIR的红外拉曼显微镜,可在多种应用中提供亚微米红外光谱和图像。中红外光热显微镜mIRage采用基于光学光热红外(O-PTIR)光谱的专有技术,突破了传统红外光谱的衍射极限,填补了传统红外显微光谱和纳米红外光谱的空白。
  • 这款红外显微镜采用显微热像仪技术和共聚焦热反射显微镜技术,高精度测量芯片,MEMS等微纳器件温度值和温度分布。feichang适合器件热分析和热测试。
  • 场发射显微镜Field Emission Microscope是为半导体器件漏电和门控问题设计的荧光显微热像仪,可确定器件芯片Ohmic短路位置。场致发射显微镜确定断路位置,快速而清洁,不需要在晶圆上涂层镀膜,可以在1000nm以下和1800nm波段显示漏电和门控问题。
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