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显微薄膜测量仪
  • 显微薄膜测量仪MSP300-Angstrom显微分光光度计测量薄膜光学常量-孚光精仪

显微薄膜测量仪

这款显微薄膜测量仪是一款多功能薄膜测厚仪和显微分光光度计,可以结合显微镜测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率以及测量薄膜荧光。这款显微薄膜测试仪通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
型号:
FRANG-MSP300
品牌:
孚光精仪
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-51300728 您也可网站留言或在线客服留言垂询,孚光精仪-领先的进口精密仪器服务商欢迎您!

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这款显微薄膜测量仪是一款多功能薄膜测厚仪和显微分光光度计,可以结合显微镜测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率以及测量薄膜荧光。这款显微薄膜测试仪通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。
显微薄膜测量仪
薄膜厚度测试仪软件   
这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。
对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。
对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。
显微薄膜测量仪标准参数 
可测膜厚: 10nm-150微米;
波长范围:200-1100nm
精度:0.5%
分辨率:0.02nm
光源:使用显微镜光源
光斑大小:由显微镜物镜决定
计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;
尺寸:120x120x120mm
重量:1.2kg

薄膜厚度测试仪应用
测量薄膜吸收率,透过率
测量化学薄膜和生物薄膜测量
光电子薄膜结构测量 
半导体制造
聚合物测量 
在线测量
光学镀膜测量

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